XC200數控檢驗篩為先臣較新研制的一種更為精密的顆粒分樣篩機,面板控制、平臺操作;使用標準的200mm檢驗篩或者75mm的分樣篩,有對應的夾具,可選擇加裝1層到8層篩體,對所檢驗的一種物料可以分解出多組樣品。采用集成電路控制,振幅、頻率、振動方式都可以調整;噪音低、重量輕、精度高;實驗室、檢驗室對顆粒、粉末、漿液的粒度檢驗、分析,以及生產在線的質量檢驗,性能卓著。

◆　采用優(yōu)化的集成電路控制,功能全而操作更簡單。 ◆　一種顆粒料可同時精密分出2～9個粒子段。 ◆　可用于漿液料的細度及雜物含量分析。 ◆　噪音小、重量輕；平臺操作,無須固定。 ◆　可對振動的頻率、方式、振幅等進行隨時同步調節(jié)。

序號 名稱 單位 參數 1 篩具 層 1～8 2 篩具直徑 mm φ200φ100φ75 3 篩分粒度 mm 0.28～3 4 噪音 dB 50 5 振幅 mm 0～3 6 振動頻率 次/分 3000 6000 7 振動方式 種 3 8 電源 V;HZ 220;50 9 整機重量 Kg 21

顆粒精密分樣篩廣泛應用于食品、醫(yī)藥、化工、磨料、顏料、礦山、冶金、地質、陶瓷、國防等行業(yè)的科研單位、實驗室、檢驗室、生產控制檢驗、分析,以及超硬材料顆粒的生產分級等等。 詳細操作步驟：數控檢驗篩的使用和保養(yǎng)要點 更多數控檢驗篩相關技術信息請進入:技術支持專欄